一种扫描链故障诊断方法及系统

摘要

本发明公开了一种扫描链故障诊断方法及系统。该方法包括：将待测芯片的扫描链中的扫描单元组成候选扫描单元集合，并在集合中选定待测候选对；根据故障类型，为所述待测候选对建立相应的固定型故障诊断装置；利用该装置为所述待测候选对生成诊断向量，并存储于诊断向量集合，用于对待测芯片进行扫描链故障诊断；还包括步骤：将诊断向量集合中所有的诊断向量逐一加载至待测芯片得到故障响应，并依据故障响应，对待测芯片进行扫描链故障诊断。该方法能够在没有任何面积和布线开销的情况下对故障扫描链进行诊断，且不改变传统的扫描链诊断流程，从而降低逻辑诊断成本。

主权项

1.一种扫描链故障诊断方法，其特征在于，包括步骤：步骤A.将待测芯片的扫描链中的扫描单元组成候选扫描单元集合，并在候选扫描单元集合中选定待测候选对；步骤B.根据扫描链的固定型故障类型，为所述待测候选对建立相应的固定型故障诊断装置；步骤C.利用所述固定型故障诊断装置为所述待测候选对生成诊断向量，并存储于诊断向量集合，用于对待测芯片进行扫描链故障诊断。