发明名称 |
一种测试嵌入式系统中定时器的方法及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种测试嵌入式系统中定时器的方法及系统,用以解决现有技术中存在没有外围设备无法对定时器的准确性进行测试的问题。本发明的方法是嵌入式系统存有测试装置设置和发送的时间间隔和数量值N;所述方法还包括步骤:嵌入式系统中的定时器根据预设的时间间隔发生中断,并通知嵌入式系统中的运行器进行中断处理;所述运行器在每处理N次中断时向带有时钟的测试装置发送标志性信息;所述测试装置根据所述标志性信息和本地时钟记录时间,进一步根据相邻两次记录的时间确定实际间隔,并根据该实际间隔和预设的预期间隔判断定时器的准确性,其中,预期间隔为预设的时间间隔的N倍。该系统包括定时器、运行器和测试装置。 |
申请公布号 |
CN100440158C |
申请公布日期 |
2008.12.03 |
申请号 |
CN200610114788.4 |
申请日期 |
2006.11.23 |
申请人 |
北京中星微电子有限公司 |
发明人 |
占文静;游明琦 |
分类号 |
G06F11/22(2006.01) |
主分类号 |
G06F11/22(2006.01) |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
1、一种测试嵌入式系统中定时器的方法,其特征在于,嵌入式系统存有测试装置设置和发送的时间间隔和数量值N;所述方法还包括以下步骤:嵌入式系统中的定时器根据预设的时间间隔发生中断,并通知嵌入式系统中的运行器进行中断处理;所述运行器在每处理N次中断时向带有时钟的测试装置发送标志性信息;所述测试装置根据所述标志性信息和本地时钟记录时间,进一步根据相邻两次记录的时间确定实际间隔,并根据该实际间隔和预设的预期间隔判断定时器的准确性,其中,预期间隔为预设的时间间隔的N倍。 |
地址 |
100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 |