发明名称 |
高速沉积优质本征微晶硅薄膜的制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种高速沉积优质本征微晶硅薄膜的制备方法,利用超高频等离子体增强化学气相沉积技术,其中,将高速沉积本征微晶硅薄膜的制备过程划分为至少两个时间段,每个时间段对应一个输入功率,在所述高速沉积本征微晶硅薄膜的制备过程中,所述输入功率以功率降低梯度呈递减的规则变化。本发明采用逐渐降低输入功率的方法沉积本征微晶硅薄膜,达到控制本征微晶硅薄膜纵向微结构演变和提高微结构致密性,从而提高高速沉积微晶硅太阳电池的光电转换效率。 |
申请公布号 |
CN101315958A |
申请公布日期 |
2008.12.03 |
申请号 |
CN200810053846.6 |
申请日期 |
2008.07.15 |
申请人 |
南开大学 |
发明人 |
耿新华;韩晓艳;侯国付;张晓丹;张德坤;魏长春;孙建;赵颖;薛俊明;张建军 |
分类号 |
H01L31/18(2006.01);H01L21/205(2006.01) |
主分类号 |
H01L31/18(2006.01) |
代理机构 |
天津佳盟知识产权代理有限公司 |
代理人 |
侯力 |
主权项 |
1、一种高速沉积本征微晶硅薄膜的制备方法,用于硅基薄膜太阳电池,利用超高频等离子体增强化学气相沉积技术,其特征在于:将高速沉积本征微晶硅薄膜的制备过程划分为至少两个时间段,所述每个时间段控制在5~20分钟,所述每个时间段对应一个输入功率,在所述高速沉积本征微晶硅薄膜的制备过程中,所述输入功率以功率降低梯度呈递减的规则变化。 |
地址 |
300071天津市南开区卫津路94号 |