| 发明名称 | 分析仪器、装置和方法 | ||
| 摘要 | 一种样本分析装置(10)包括处理回路(22)，其被耦接到数据集设备(20)和存储设备(24)，以根据一个分析参数设置从分析部件(14)获取一个数据集，并利用先前获得的另一数据集来准备另一分析参数设置。 | ||
| 申请公布号 | CN101317246A | 申请公布日期 | 2008.12.03 |
| 申请号 | CN200680013893.7 | 申请日期 | 2006.04.25 |
| 申请人 | 格里芬分析技术有限责任公司 | 发明人 | B·拉迪恩;J·M·威尔斯;G·E·帕特森 |
| 分类号 | H01J49/00(2006.01) | 主分类号 | H01J49/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 赵科 |
| 主权项 | 1、一种样本分析装置，包括处理回路，被配置为从根据一个分析参数设置配置的分析部件获取一个数据集，并利用先前获取的另一数据集制备另一分析参数设置。 | ||
| 地址 | 美国印第安纳 | ||