发明名称 发光真实寿命的测量方法
摘要 本发明涉及一种发光寿命的测量方法,适用于光致发光、各类电场诱导的发光的真实寿命和可以光激发的非发光系统的时间分辨。该方法是在保持发光器件驱动电压不变的条件下,测量出不同频率下发光强度,画出亮度-频率曲线,从曲线上找出回折点,这个回折点所对应的频率和真实寿命之间有:T=(1/2f<SUB>0</SUB>)[1-Γ]其中:T是真实寿命,Γ是激发脉冲的占空比,f<SUB>0</SUB>是回折点所对应的频率。所述的保持发光器件驱动功率不变的条件是指光源发光光强不变、场致发光、p-n结发光中驱动电压不变,可在各自情况中取任意固定值。
申请公布号 CN101315331A 申请公布日期 2008.12.03
申请号 CN200810117043.2 申请日期 2008.07.23
申请人 北京交通大学 发明人 徐征;张福俊;赵谡玲;冀国蕊;徐叙瑢
分类号 G01N21/62(2006.01) 主分类号 G01N21/62(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种发光真实寿命的测量方法,其特征在于:在保持发光器件激发功率不变的条件下,测量出不同频率下发光强度,测量发光强度随激发频率的变化曲线,在高频端出现的回折点,这个回折点所对应的频率和真实寿命之间有:<math><mrow><mi>T</mi><mo>=</mo><mfrac><mn>1</mn><mrow><mn>2</mn><msub><mi>f</mi><mn>0</mn></msub></mrow></mfrac><mo>[</mo><mn>1</mn><mo>-</mo><mi>&Gamma;</mi><mo>]</mo></mrow>其中:T是真实寿命,Γ是激发脉冲的占空比,f0是回折点所对应的频率。
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