发明名称 |
有机EL元件的制造方法 |
摘要 |
在具备形成在阳极与阴极之间裹夹有机膜而成的有机EL元件的工序、在有机EL元件中进行在阳极与阴极之间施加电压的老化处理,使缺陷部开路破坏的老化工序的有机EL元件的制造方法中,通过测定在有机EL元件中施加了反偏置电压时流动的电流,求出了缺陷部的破坏电压及有机EL元件的破坏电压后,将这两个破坏电压之间的电压范围作为老化处理中的施加电压的范围,进行老化工序。由此,提供了一种可不对元件的正常部造成损伤,而使膜缺陷部预先适当地开路破坏的有机EL元件的制造方法。 |
申请公布号 |
CN100440578C |
申请公布日期 |
2008.12.03 |
申请号 |
CN03136877.8 |
申请日期 |
2003.05.21 |
申请人 |
株式会社电装 |
发明人 |
加藤博道;宫下耕一;森薰;加藤哲弥;山本敦司;石田泰三;铃木晴视 |
分类号 |
H01L51/56(2006.01);H05B33/10(2006.01) |
主分类号 |
H01L51/56(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
马铁良;王忠忠 |
主权项 |
1.一种有机EL元件的制造方法,其具备形成在阳极(2)与阴极(8)之间裹夹有机膜(3~6)而成的有机EL元件(S1)的工序;在上述有机EL元件中进行在上述阳极与上述阴极之间施加电压的老化处理,使膜中存在的缺陷部开路破坏的老化工序,其特征在于:通过测定在上述有机EL元件中施加了反偏置电压时流动的电流,求出了上述缺陷部的开路破坏发生的电压范围及上述有机EL元件产生破坏的电压范围后,将该缺陷部的开路破坏发生的电压范围中的最小电压与有机EL元件产生破坏的电压范围中的最小电压之间的电压范围、且为上述有机EL元件的实际驱动时的逆电压绝对值以上的电压范围,作为上述老化处理中的施加电压的范围,进行上述老化工序。 |
地址 |
日本爱知县刈谷市 |