| 发明名称 | 受扰环境中的干涉测量 | ||
| 摘要 | 在实施方案中描述了用于在受扰环境中进行干涉测量的技术。受扰环境(106)可以包括一种或更多种变化，例如压强变化和/或温度变化。在一个实施方案中，检测第一光束(108)的光程和第二光束(110)的光程之间的差。第一或第二光束中的一束或更多束可以在靠近受扰环境的地方被封闭在护罩(114)中。该方法还可以在靠近受扰环境的地方将窗(116)耦合到护罩，例如，以减小受扰环境的负面影响。 | ||
| 申请公布号 | CN100439858C | 申请公布日期 | 2008.12.03 |
| 申请号 | CN200610078709.9 | 申请日期 | 2006.05.10 |
| 申请人 | 恪纳腾技术公司 | 发明人 | 罗曼·萨裴 |
| 分类号 | G01B11/02(2006.01);G01B9/02(2006.01);G11B5/48(2006.01) | 主分类号 | G01B11/02(2006.01) |
| 代理机构 | 北京嘉和天工知识产权代理事务所 | 代理人 | 严慎 |
| 主权项 | 1.一种设备，包括：检测器(212)，所述检测器用来确定第一光束(108)的光程和第二光束(110)的光程之差；护罩(114)，所述护罩在靠近受扰环境(106)的地方封闭所述第一或第二光束中的一束或两束；以及窗(116)，所述窗靠近受扰环境(106)并且耦合到所述护罩，用于减小所述受扰环境的影响。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||