发明名称 液晶显示面板的测试方法及其设备
摘要 本发明是提供一种液晶显示面板的测试方法,是用于液晶显示面板的驱动点亮,其包括下列步骤:取一导电性良好的导电橡胶,依液晶显示面板的单一电极区的正极电极区及共用电压区两部分的长度切成条状;将切成条状的导体固定在信号线电极区及扫描线电极区,使正极电极区的每一信号线皆接触在一起;将全部信号线电极区及扫描线电极区的正极电极区及共用电压区分别短路;以及利用信号产生器分别加入波形信号至该信号线电极区及该扫描线电极区,并调整信号线电极区的电压大小以改变该液晶显示面板的灰阶,即可检视出液晶显示面板的各类缺陷。此外,本案亦揭露一种液晶显示面板的测试设备。
申请公布号 CN100439978C 申请公布日期 2008.12.03
申请号 CN03120109.1 申请日期 2003.03.07
申请人 友达光电股份有限公司 发明人 陈昭河;金志明;黄琼仪
分类号 G02F1/133(2006.01);G01N21/88(2006.01) 主分类号 G02F1/133(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汤保平
主权项 1.一种液晶显示面板的测试方法,是用于一TAB型液晶显示面板的驱动点亮,其特征在于,该测试方法包括下列步骤:取一导体并依该液晶显示面板的单一电极区的一正极电极区及共用电压区两部分的长度切成条状;将切成条状的导体固定在一信号线电极区及一扫描线电极区,使该正极电极区的每一信号线皆接触在一起;将全部信号线电极区及扫描线电极区中的正极电极区及共用电压区分别短路;以及利用信号产生器分别加入波形信号至该信号线电极区及该扫描线电极区,并调整该信号线电极区的电压大小以改变该液晶显示面板的灰阶,以检视出该液晶显示面板的各类缺陷。
地址 台湾省新竹市科学工业园区