发明名称 |
集成半导体结构 |
摘要 |
本发明系关于一种集成半导体结构,其具基板(1),至少一位于该基板(1)上的半导体组件(2),具表面(F)的垫金属(3),位于该垫金属(3)及该基板(1)之间的许多金属层(4.x),及许多绝缘层(5,y),其将该金属层(4.x)彼此分开,至少在部分该至少一半导体组件(2)上延伸的该垫金属(3)。本发明特征在于在该垫金属(3)的表面(F)下方,至少该顶部两金属层(4.x、4.x-1)具一种至少包括两相邻的互连(4.x.z、4.x-1.z)的结构。 |
申请公布号 |
CN100440497C |
申请公布日期 |
2008.12.03 |
申请号 |
CN03815714.4 |
申请日期 |
2003.06.12 |
申请人 |
因芬尼昂技术股份公司 |
发明人 |
R·鲍尔;W·厄特勒;T·弗罗赫米勒;B·戈尔勒;R·格雷德尔;O·纳格勒;O·施梅克比尔;W·斯塔德勒 |
分类号 |
H01L23/485(2006.01) |
主分类号 |
H01L23/485(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
张雪梅;张志醒 |
主权项 |
1.一种集成半导体结构,具有:基板(1);至少一个位于所述基板(1)上的半导体组件(2);具有表面(F)的垫金属(3);位于所述垫金属(3)和所述基板(1)之间的多个金属层(4.x);多个绝缘层(5,y),其将所述金属层(4.x)彼此分开;至少在部分所述至少一个半导体组件(2)上延伸的所述垫金属(3);及在所述垫金属(3)的表面(F)下方,至少最顶两层金属层(4.x、4.x-1)均具有至少包括两相邻的互连(4.x.z、4.x-1.z)的结构,其中,至少在所述垫金属(3)的表面(F)下方,所述最顶两层金属层(4.x、4.x-1)的互连(4.x.z、4.x-1.z)具有多个孔洞(7.x、7.x-1),及其中,所述最顶两层金属层(4.x、4.x-1)的互连(4.x.z、4.x-1.z)彼此排列,使得在最顶层的互连(4.x.z)的孔洞(7.x)相对于在下方互连(4.x-1.z)的孔洞(7.x-1)偏位。 |
地址 |
德国慕尼黑 |