| 发明名称 | 提供IC设计的方法以及IC设计工具 | ||
| 摘要 | 公开了提供集成电路设计的方法，集成电路具有核功能、围绕核功能的IO(输入/输出)环、和边界扫描结构，边界扫描结构用于在集成电路的预定模式期间提供对核功能或IO环的访问，还公开了实现该方法的设计工具。该方法包括：提供核功能和IO环的第一网表的步骤(110)；随后是规定针对第一网表的内容的边界扫描设计的步骤(120，130)。接下来，由第一网表和边界扫描设计规范综合出(150)第二网表；将边界扫描设计实例从第二网表中分离出来(420)。在分开的步骤(410)中，提供没有IO环的核功能的第三网表；在随后的步骤(460)中将第三网表和分离出来的边界扫描元件组合成第四网表。在随后的步骤(470)中，将对IO环的描述加入第四网表。将边界扫描元件加入核网表有助于在无需重新生成边界扫描设计的情况下替换IC设计中的IO环。 | ||
| 申请公布号 | CN101317180A | 申请公布日期 | 2008.12.03 |
| 申请号 | CN200680044842.0 | 申请日期 | 2006.11.28 |
| 申请人 | NXP股份有限公司 | 发明人 | 让－弗朗索瓦·勒佩尔 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01) | 主分类号 | G06F17/50(2006.01) |
| 代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈源;张天舒 |
| 主权项 | 1.一种提供集成电路的设计的方法，该集成电路具有核功能(202)、围绕该核功能的IO环(204)、和边界扫描结构(206，208)，该边界扫描结构用于在该集成电路的预定模式期间提供对所述核功能(202)或所述IO环(204)的访问，所述方法包括：提供(110)所述核功能(202)和所述IO环(204)的第一网表(200)；规定(120，130，140)针对所述第一网表(200)的内容的边界扫描设计(206，208)；由所述第一网表(200)和边界扫描设计规范综合出(150)第二网表(210)；将边界扫描设计元件(206，208)从所述第二网表(210)中分离出来(420)；提供(410)没有所述IO环的核功能(202)的第三网表；将所述第三网表和分离出来的边界扫描元件(206，208)组合成(430，440，450)第四网表(320)；以及通过将对IO环(204)的描述加入所述第四网表(320)来生成第五网表(330)。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||