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经营范围
发明名称
X射线分析装置和X射线分析方法
摘要
在X射线分析装置和X射线分析方法中,藉由稳定地作动X射线源而稳定地实施定量分析。具有第一次X射线照射于样本之X射线管形灯泡、能够调整一次X射线之强度的一次X射线调整机构、X射线侦测器,其侦测自样本辐射出之特性X射线,藉以输出包含特性X射线和散射之X射线的能量资讯之讯号、分析上面之讯号的分析器、及入射X射线调整机构,其系配置于样本与X射线侦测器之间,且能够调整进入至X射线侦测器中之特性X射线和散射之X射线的总强度。
申请公布号
TW200846657
申请公布日期
2008.12.01
申请号
TW097101234
申请日期
2008.01.11
申请人
精工电子纳米科技有限公司
发明人
深井隆行;的场吉毅;长谷川清
分类号
G01N23/223(2006.01)
主分类号
G01N23/223(2006.01)
代理机构
代理人
林志刚
主权项
地址
日本
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