发明名称 |
形成浅接合的技术 |
摘要 |
本发明揭露形成浅接合的技术。在一个特定示范性实施例中,技术可被实现为形成浅接合之方法。此方法可包括生成包括分子离子之离子束,分子离子基于由下列各物所构成的群族中选出之一或多种物质:二锗烷(Ge#sB!2#eB!H#sB!6#eB!)、氮化锗(Ge#sB!3#eB!N#sB!4#eB!)、锗-氟化合物(GeF#sB!n#eB!,其中n=1、2或3),以及其它含锗化合物。此方法亦可包括使离子束冲击半导体晶圆。 |
申请公布号 |
TW200847245 |
申请公布日期 |
2008.12.01 |
申请号 |
TW097113025 |
申请日期 |
2008.04.10 |
申请人 |
瓦里安半导体设备公司 |
发明人 |
阿雷瓦洛 爱德温A;汉特曼 克里斯多夫R;雷诺 安东尼;英格兰 乔纳森 吉罗德 |
分类号 |
H01L21/24(2006.01);H01L21/40(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/24(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文;萧锡清 |
主权项 |
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地址 |
美国 |