发明名称 GaAs晶圆之化学机械研磨方法
摘要 本发明之GaAs晶圆之化学机械研磨方法,使用含有二氯异氰尿酸、三聚磷酸钠、硫酸钠、碳酸钠、以及胶体氧化矽作为除水以外之组成之化学机械研磨液,进行作为GaAs晶圆之1次研磨步骤的化学机械研磨,将上述晶圆装入化学机械研磨装置中,并向研磨装置供给除水以外之组成中含有20~31%之质量比之三聚磷酸钠的第1组成之研磨液,进行第1阶段之研磨,其后向研磨装置供给除水以外之组成中含有13~19%之质量比之三聚磷酸钠的第2组成之研磨液,进行第2阶段之研磨。
申请公布号 TW200847259 申请公布日期 2008.12.01
申请号 TW096148706 申请日期 2007.12.19
申请人 住友电气工业股份有限公司 发明人 中山雅博;山崎哲弥
分类号 H01L21/304(2006.01);C09G1/04(2006.01) 主分类号 H01L21/304(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本