发明名称 |
监视预烧测试装置及监视预烧测试方法以及温度测试装置及其温度调整方法 |
摘要 |
在监视预烧试验装置中,对需更新处理之复数元件一并写入资料。在写入后之元件执行更新处理。保持资料。执行读取处理时,在读取处理对象之元件中止更新处理。从所中止之元件读取资料。如此进行,由于仅读取处理之对象之元件中止更新处理,故在读取处理对象以外之元件可继续更新处理。而确实地保持资料。资料之写入处理1次即可完成。因而,监视预烧测试可有效率地执行。 |
申请公布号 |
TW200846683 |
申请公布日期 |
2008.12.01 |
申请号 |
TW097103959 |
申请日期 |
2008.02.01 |
申请人 |
富士通股份有限公司 |
发明人 |
前崎义博;使河原宽;小平幸彦;关口尚枝 |
分类号 |
G01R31/26(2006.01);H05B3/10(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/26(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
恽轶群;陈文郎 |
主权项 |
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地址 |
日本 |