| 摘要 |
<p>L'invention concerne un procédé et un dispositif pour la mesure sans contact d'oscillations d'un objet.Le procédé comprend les étapes suivantes : détermination d'au moins un point à mesurer sur l'objet, déplacement d'au moins un interféromètre laser fixé sur un support dans une position de mesure pour mesurer le point de mesure sur l'objet, émission d'au moins un faisceau laser de l'interféromètre laser sur ledit au moins un point de mesure sur l'objet, saisie du faisceau de mesure rétrodiffusé par l'objet, détermination de données d'oscillation à partir du faisceau de mesure émis et rétrodiffusé, association des données d'oscillation au point de mesure ainsi qu'évaluation des données d'oscillation et sortie des données d'oscillation évaluées du point de mesure, au moins un alignement d'une position de l'interféromètre laser étant effectué au moyen d'au moins une position d'un point connu, librement prédéterminable sur l'objet et que une règle de transformation étant établie à l'aide de l'alignement pour déterminer la position de l'interféromètre laser par rapport à l'objet pour des positions de mesure quelconques.</p> |
