发明名称 |
Halbleiterelement |
摘要 |
Ein Halbleiterelement (1) weist eine Halbleiterschicht (10) mit einer ersten Dotierungsdichte, einer Metallisierung (12) und einem Kontaktbereich (14) zwischen der Halbleiterschicht (10) und der Metallisierung (12) auf, wobei der Kontaktbereich (14) zumindest einen ersten Halbleiterbereich (16) aufweist, wobei der erste Halbleiterbereich (16) eine zweite Dotierungsdichte aufweist, die höher als die erste Dotierungsdichte ist und zumindest einen zweiten Halbleiterbereich (18) in der Halbleiterschicht (10) in Kontakt mit der Metallisierung (12) aufweist, der einen geringeren ohmschen Widerstand zu der Metallisierung (12) liefert als ein direkter Kontakt zwischen der Halbleiterschicht (10) und der Metallisierung (12) liefert oder liefern würde und der eine geringere Injektionsneigung aufweist als der erste Halbleiterbereich (16).
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申请公布号 |
DE102007024461(A1) |
申请公布日期 |
2008.11.27 |
申请号 |
DE200710024461 |
申请日期 |
2007.05.25 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG |
发明人 |
PFAFFENLEHNER, MANFRED;SCHULZE, HANS-JOACHIM;NIEDERNOSTHEIDE, FRANZ-JOSEF |
分类号 |
H01L29/861;H01L21/329;H01L27/04 |
主分类号 |
H01L29/861 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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