发明名称 改善层间附着的方法
摘要 本发明提供用于在两层低k值介电层之间沉积低介电常数附着层的衬底处理方法。本发明的一个方面提供处理衬底的方法,包括在衬底上沉积阻挡层(112),其中阻挡层包括硅和碳,其介电常数小于4,临近阻挡层,沉积介电起始层,临近介电起始层,沉积第一介电层(110),其中介电层包括硅、氧和碳,其介电常数约为3或更小。
申请公布号 CN100437933C 申请公布日期 2008.11.26
申请号 CN200480005158.2 申请日期 2004.03.05
申请人 应用材料有限公司 发明人 F·C·施密特;L-Q·夏;S·V·源;S·文卡塔拉曼
分类号 H01L21/31(2006.01);H01L21/768(2006.01);C23C16/32(2006.01);C23C16/40(2006.01) 主分类号 H01L21/31(2006.01)
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人 赵蓉民
主权项 1.一种处理衬底的方法,包括:在衬底上沉积阻挡层,其中所述阻挡层包括硅和碳,其介电常数小于4;临近所述阻挡层,沉积介电起始层,其中所述介电起始层包括硅、氧和碳,并且所述介电起始层在第一温度下沉积;以及临近所述介电起始层,沉积第一介电层,其中所述第一介电层包括硅、氧和碳,其介电常数为3或更小,并且其中所述第一介电层在低于所述第一温度的第二温度下沉积。
地址 美国加利福尼亚州