发明名称 |
改善层间附着的方法 |
摘要 |
本发明提供用于在两层低k值介电层之间沉积低介电常数附着层的衬底处理方法。本发明的一个方面提供处理衬底的方法,包括在衬底上沉积阻挡层(112),其中阻挡层包括硅和碳,其介电常数小于4,临近阻挡层,沉积介电起始层,临近介电起始层,沉积第一介电层(110),其中介电层包括硅、氧和碳,其介电常数约为3或更小。 |
申请公布号 |
CN100437933C |
申请公布日期 |
2008.11.26 |
申请号 |
CN200480005158.2 |
申请日期 |
2004.03.05 |
申请人 |
应用材料有限公司 |
发明人 |
F·C·施密特;L-Q·夏;S·V·源;S·文卡塔拉曼 |
分类号 |
H01L21/31(2006.01);H01L21/768(2006.01);C23C16/32(2006.01);C23C16/40(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/31(2006.01) |
代理机构 |
北京纪凯知识产权代理有限公司 |
代理人 |
赵蓉民 |
主权项 |
1.一种处理衬底的方法,包括:在衬底上沉积阻挡层,其中所述阻挡层包括硅和碳,其介电常数小于4;临近所述阻挡层,沉积介电起始层,其中所述介电起始层包括硅、氧和碳,并且所述介电起始层在第一温度下沉积;以及临近所述介电起始层,沉积第一介电层,其中所述第一介电层包括硅、氧和碳,其介电常数为3或更小,并且其中所述第一介电层在低于所述第一温度的第二温度下沉积。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |