发明名称 单甲基卤化二苯基甲烷的检测方法
摘要 本发明涉及单甲基卤化二苯基甲烷的检测方法,包括以下步骤:利用索式提取法或超声萃取法对所检测样品进行前处理;借助气相色谱-质谱联用技术检测单甲基卤化二苯基甲烷,对气相色谱-质谱联用仪的进样口温度设定为180℃~300℃,载气流速设定为0.5~2.0毫升/分钟,色谱柱选择非极性或弱极性柱,接口温度设定为200℃~300℃;经过前处理的所述样品通过所述气相色谱-质谱联用仪的进样口进入所述色谱柱中,进行程序升温,从40℃~120℃开始,升温至250℃~320℃;所述样品的各同分异构体从色谱柱被分离。使用该方法具有检测仪器价廉、安全,分析方法准确、快速、干扰小的特点。
申请公布号 CN101311719A 申请公布日期 2008.11.26
申请号 CN200810067211.1 申请日期 2008.05.15
申请人 深圳市华测检测技术股份有限公司 发明人 王鑫;杨果;刘蔷薇;何树悠;梁圆圆;郭冰
分类号 G01N30/02(2006.01) 主分类号 G01N30/02(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1、一种单甲基卤化二苯基甲烷的检测方法,其特征在于:包括以下步骤,①利用索式提取法或超声萃取法对所检测样品进行前处理;②用气相色谱-质谱联用技术检测单甲基卤化二苯基甲烷,对所用气相色谱-质谱联用仪的进样口温度设定为180℃~300℃,载气流速设定为0.5~2.0毫升/分钟,色谱柱选择非极性或弱极性柱,接口温度设定为200℃~300℃;③令经过前处理的所述样品通过所述气相色谱-质谱联用仪的进样口进入所述色谱柱中,进行程序升温,从40℃~120℃开始,升温至250℃~320℃,所述样品的各同分异构体从所述色谱柱分离;④所述被色谱柱分离的样品各同分异构体通过所述气相色谱-质谱联用仪的接口进入质谱检测部分进行质谱检测,所述质谱检测器的离子源采用电子轰击源。
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