首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Testdevice for semiconductor components
摘要
申请公布号 EP1830194(B1) 申请公布日期 2008.11.26
申请号 EP20070003534 申请日期 2007.02.21
申请人 ATMEL GERMANY GMBH 发明人 HEINKE, MATTHIAS;WIECZOREK, HEINRICH
分类号 G01R31/01;G01R31/28 主分类号 G01R31/01
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com