发明名称 |
自测试电子组件及测试系统 |
摘要 |
一种自测试电子系统的自测试,如诊断或线上部件及电路的测试等,其中测试的依据为内部储存的测试程序。自测试结果存储在内部的装置中,其提供关于自测试电子组件的宝贵信息,此可在制程中、并以在正在进行的现场操作进行中进行为佳。测试系统以连接至一个或多个自测试电子组件为佳,并能提供每一自测试电子组件的回路电路,以使自测试电子组件可进一步测试部件、电路及安全编码与解码操作。较佳测试机架还提供对自测试单元组件的有效及一致监视及质量控制。在正在进行的现场操作中,自测试电子组件以能监视操作参数为佳,并在储存装置中信息时得继续定期执行自测试,并以将信息传至外部位置为佳。 |
申请公布号 |
CN100437507C |
申请公布日期 |
2008.11.26 |
申请号 |
CN00813004.3 |
申请日期 |
2000.07.12 |
申请人 |
提维股份有限公司 |
发明人 |
J·M·巴顿;S·塔赫玛赛比;D·普莱特 |
分类号 |
G06F11/267(2006.01);G06F11/22(2006.01);G06F11/00(2006.01);G06F11/273(2006.01) |
主分类号 |
G06F11/267(2006.01) |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
李玲 |
主权项 |
1.一种自测试电子组件,所述自测试电子组件包含:包含多个互连部件的电子电路;连接至所述电子电路的一个或多个存储器储存装置,所述一个或多个存储器储存装置包含测试所述电子电路的测试逻辑;位于所述系统内并连接至所述电子电路的处理器,所述处理器适合于从一个或多个所述存储器储存装置检索测试所述电子电路的所述测试逻辑、根据所述测试逻辑执行所述测试、和把所述测试结果存储在所述一个或多个存储器储存装置上;以及所述处理器跟踪并登记包含识别信息的所述互连部件的标识并把所述识别信息存储在所述一个或多个存储器存储装置上。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |