发明名称 调试卡及调试方法
摘要 一种调试卡,插接于一主板的插槽上,所述调试卡包括一可编程逻辑器件、一与所述可编程逻辑器件电性连接的PCI总线接口及一也与所述可编程逻辑器件电性连接的LPC总线接口,所述可编程逻辑器件包括一用于锁存从所述PCI及LPC总线接口传入的数据的数据锁存模块及一用于转换所述数据锁存模块中锁存的数据的数据转换模块。所述调试卡不仅支持PCI总线插槽,还支持LPC总线插槽,增强了调试卡的通用性。此外,本发明还提供一种与之相应的调试方法。
申请公布号 CN101311905A 申请公布日期 2008.11.26
申请号 CN200710200678.4 申请日期 2007.05.22
申请人 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 发明人 孔祥云
分类号 G06F11/22(2006.01) 主分类号 G06F11/22(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种调试卡,插接于一主板的插槽上,所述调试卡包括一可编程逻辑器件及一与所述可编程逻辑器件电性连接的PCI总线接口,其特征在于:所述调试卡还包括一也与所述可编程逻辑器件电性连接的LPC总线接口,所述可编程逻辑器件包括一用于锁存从所述PCI及LPC总线接口传入的数据的数据锁存模块及一用于转换所述数据锁存模块中锁存的数据的数据转换模块。
地址 518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号