发明名称 一种稳定同位素<SUP>22</SUP>Ne、<SUP>20</SUP>Ne产品的气体纯度分析方法
摘要 本发明涉及了一种热扩散法生产稳定同位素<SUP>22</SUP>Ne、<SUP>20</SUP>Ne产品中微量杂质的色谱分析方法,其特征在于应用关键组分分析数学概率理论,结合同位素分离实际状况,采用三点概括法实现稳定性同位素<SUP>22</SUP>Ne、<SUP>20</SUP>Ne气体纯度的气相色谱法一次检测。该方法通过检测稳定同位素<SUP>22</SUP>Ne、<SUP>20</SUP>Ne产品气体中氧气、氮气及氢气的含量来间接实现对<SUP>22</SUP>Ne、<SUP>20</SUP>Ne化学纯度的分析。该方法对高纯<SUP>22</SUP>Ne、<SUP>20</SUP>Ne同位素产品气体纯度检测灵敏度达到99.99%,产品中H<SUB>2</SUB>、O<SUB>2</SUB>、N<SUB>2</SUB>的杂质成分检测灵敏度达到3-20ppm级,而进样量为0.5-1.2ml,并且重现性好、速度快、方法简单方便、便于推广至稳定同位素<SUP>22</SUP>Ne、<SUP>20</SUP>Ne的生产质量控制及激光陀螺制备工艺的工作气体成分分析中。
申请公布号 CN101311707A 申请公布日期 2008.11.26
申请号 CN200710041225.1 申请日期 2007.05.25
申请人 上海化工研究院 发明人 杜晓宁;李虎林;于国庆
分类号 G01N23/00(2006.01);G01T1/167(2006.01);G01N30/26(2006.01);G01N30/62(2006.01) 主分类号 G01N23/00(2006.01)
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 余岚
主权项 1.一种稳定同位素22Ne、20Ne产品的气体纯度分析方法,其特征在于,该方法通过检测稳定同位素22Ne、20Ne产品气体中氧气、氮气及氢气的含量来间接实现对22Ne、20Ne化学纯度的分析。
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