发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE HAVING TRIMING-TEST MODE AND NORMAL-TEST MODE
摘要
申请公布号 KR100870432(B1) 申请公布日期 2008.11.25
申请号 KR20070037805 申请日期 2007.04.18
申请人 发明人
分类号 G11C29/00;G11C8/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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