发明名称 一种Ni/Si纳米线阵列的制备方法以及基于这种纳米线阵列的微纳湿度传感器
摘要 本发明公开了一种Ni/Si纳米线阵列的制备方法,以及基于这种纳米线阵列的微纳湿度传感器。该器件是在N型硅衬底上采用电化学刻蚀技术制作大面积硅纳米线阵列,然后在该阵列上无电镀沉积镍薄膜。由于该结构具有大的长径比和比表面积,其微观结构独特,能够产生独特的物理、化学特性,其对水分子的吸附和解吸附能力都较纯硅纳米线阵列要好。经500℃RTA快速热退火处理后,该器件表面电阻率增大,电容感湿性能增强。本发明工艺简单,与集成电路工艺兼容,制作成本低,可批量生产,应用前景广阔。
申请公布号 CN101307452A 申请公布日期 2008.11.19
申请号 CN200810037939.X 申请日期 2008.05.23
申请人 华东师范大学 发明人 陶佰睿;苗凤娟;李辉麟;万丽娟;张健
分类号 C23F17/00(2006.01);C25F3/12(2006.01);C23C18/32(2006.01);B82B3/00(2006.01);G01N27/22(2006.01) 主分类号 C23F17/00(2006.01)
代理机构 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 代理人 吴泽群
主权项 1、一种Ni/Si纳米线阵列的制备方法,具体步骤为:1)大面积硅纳米线制备:将N-型硅切割成1cm×1.5cm碎片作为衬底,采用电化学湿法刻蚀技术,按体积比为30mM的AgNO3溶液∶20%的氢氟酸溶液∶去离子水=1∶1∶1的刻蚀液中室温下刻蚀30min;得到高度为85-100μm的硅纳米线阵列;2)Ni-SiNWs纳米复合结构制备:以步骤1)中所得硅纳米线阵列为衬底,在无电镀镍液中沉积镍薄膜,制得Ni-SiNWs纳米复合结构。
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