发明名称 |
集成电路结构 |
摘要 |
本发明涉及一种集成电路结构,包括衬底、位于衬底之中的从一端逐渐变窄的穿透硅通道、由衬底上表面延伸进入衬底的硬掩膜区,其中此硬掩膜围绕穿透硅通道的上方部分、位于衬底上的介电层、以及由介电层的上表面向穿透硅通道延伸的金属柱,其中金属柱包含与穿透硅通道的填充材料相同的材料。 |
申请公布号 |
CN101308834A |
申请公布日期 |
2008.11.19 |
申请号 |
CN200810084038.6 |
申请日期 |
2008.03.18 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
陈承先;郭正铮;卿恺明;陈志华 |
分类号 |
H01L23/522(2006.01);H01L27/02(2006.01) |
主分类号 |
H01L23/522(2006.01) |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 |
代理人 |
陈红 |
主权项 |
1、一种集成电路结构,包括:衬底;穿透硅通道,位于该衬底之内,其中该穿透硅通道从一端逐渐变窄;硬掩膜,由该衬底的上表面延伸进入该衬底,其中该硬掩膜环绕该穿透硅通道的上方部分;多个介电层,位于该衬底上方;以及金属柱,由该介电层的上表面延伸至该穿透硅通道,其中该金属柱包括与该穿透硅通道的填充材料相同的材料。 |
地址 |
台湾省新竹市新竹科学工业园力行六路八号 |