发明名称 氧化锌系薄膜
摘要 本发明系一种氧化锌系薄膜,其课题为题供于形成ZnO系薄膜于基板上之情况,为使平坦的膜成长之ZnO系薄膜,其中,在图1(a)中,于ZnO系基板1上,形成有ZnO系薄膜2,另外,在图1(b)之中,系于ZnO系基板1上,形成有为ZnO系薄膜之层积体的ZnO系层积体10,而ZnO系层积体10系为层积ZnO系半导体层3或ZnO系半导体层4等之复数ZnO系半导体层的层积体,而对于形成ZnO系薄膜2或ZnO系层积体10之情况,系以成长温度750℃以上进行成长,或者膜表面的粗度呈成为特定范围地,膜表面的阶层构造则成为特定的构造地形成。
申请公布号 TW200844275 申请公布日期 2008.11.16
申请号 TW097104936 申请日期 2008.02.05
申请人 罗姆股份有限公司 发明人 中原健;汤地洋行;田村谦太郎;赤俊辅;川崎雅司;大友明;塚崎敦
分类号 C30B29/16(2006.01);C01G9/02(2006.01) 主分类号 C30B29/16(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本