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发明名称
半导体封装制造方法及其结构
摘要
一种半导体封装制造方法及其结构,于薄型化晶圆上形成一表面处理层以防止切单后之晶圆翘曲。利用切单后所形成之晶片堆叠形成一堆叠封装结构,其中上层晶片之表面处理层系朝向下层晶片之主动面以防止打线时下层引线与上层晶片短路。
申请公布号
TW200845213
申请公布日期
2008.11.16
申请号
TW096115954
申请日期
2007.05.04
申请人
卓恩民
发明人
卓恩民
分类号
H01L21/314(2006.01);H01L21/60(2006.01);H01L25/04(2006.01)
主分类号
H01L21/314(2006.01)
代理机构
代理人
蔡朝安
主权项
地址
新竹市光华街72巷38之15号11楼
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