发明名称 Verfahren zum Schätzen der Genauigkeit azimutaler Ausrichtungen, Verfahren zum Bereitstellen einer azimutalen Ausrichtung eines tragbaren Zielgeräts und eines geschätzten Wertes deren Genauigkeit und tragbares Zielgerät.
摘要 Bei einem erfindungsgemässes Verfahren zum Schätzen der Genauigkeit azimutaler Ausrichtungen (a) eines Messgeräts (1) mit einem elektronischen Magnetkompass (2) werden mehrere Bestimmungen einer azimutalen Ausrichtung (a, a´, a´´, a´´´, a´´´´) vorgenommen, bei denen das Messgerät an unterschiedlichen, zueinander benachbarten Messorten (P, P´, P´´, P´´´, P´´´´) auf ein und denselben Messpunkt ausgerichtet ist. Aufgrund dieser bestimmten azimutalen Ausrichtungen (a, a´, a´´, a´´´, a´´´´) wird vom Messgerät (1) selbsttätig ein Wert der Genauigkeit mittels eines Rechenverfahrens geschätzt. Mit Vorteil liegen die benachbarten Messorte (P, P´, P´´, P´´´) übereinander oder entlang einer Gerade zum Messpunkt. Über dieses Verfahren können ortsfeste Störfelder von lokalem Massstab detektiert und deren Auswirkungen auf die Genauigkeit abgeschätzt werden. Weitere erfindungsgemässe Verfahren sind jeweils speziell für weitere Arten von Störfeldern ausgebildet.
申请公布号 CH697492(B1) 申请公布日期 2008.11.14
申请号 CH20050000672 申请日期 2005.04.14
申请人 VECTRONIX AG 发明人 GNEPF SILVIO;GEES JUERG
分类号 G01C17/28;F41G1/54;F41G3/06;F41G3/08;F41G3/14;F41G11/00;G01C17/38;G01S5/00;G01V3/40 主分类号 G01C17/28
代理机构 代理人
主权项
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