Vorrichtung zum Reflektieren elektromagnetischer Strahlung

摘要

Die Erfindung betrifft eine Schichtanordnung zum Reflektieren elektromagnetischer Strahlung mit einer ersten Schicht (1) und einer darauf vorgesehenen zweiten Schicht (2), wobei die erste Schicht (1) aus einem für elektromagnetische Strahlung mit einer Referenzfrequenz (f) im Bereich zwischen 5 GHz und 10 THz durchlässigen ersten Material (m1) mit einem ersten Brechungsindex (n1) und einer Dicke von ungefähr einem Viertel der Wellenlänge (lambda) der elektromagnetischen Strahlung der Referenzfrequenz (f) in dem ersten Material (m1) gebildet ist, wobei die zweite Schicht (2) aus einem für die elektromagnetische Strahlung der Referenzfrequenz (f) durchlässigen zweiten Material (m2) mit einem zweiten Brechungsindex (n2) und einer Dicke von ungefähr einem Viertel oder der Hälfte der Wellenlänge (lambda) der elektromagnetischen Strahlung der Referenzfrequenz (f) in dem zweiten Material (m2) gebildet ist, wobei der erste Brechungsindex größer als der zweite Brechungsindex (n2) ist und wobei ein Reflexionsmaximum der aus der ersten (1) und der zweiten Schicht (2) gebildeten Schichtabfolge im Bereich von 5 GHz bis 10 THz liegt. Zur Verbesserung der Reflexionseigenschaften wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, dass das erste Material (m1) ein mit einem Füllstoff versetzter erster Kunststoff ist.