| 发明名称 | 用于测量定子部件中电容的系统、方法和设备 | ||
| 摘要 | 本发明的实施例可提供用于测量定子部件如定子线棒中电容的电容叶片的系统、方法和设备。在一个实施例中，用于测量电容的系统(100，200)可包括可操作来测量物体(114)中电容的输出装置(208)。此外，系统(100，200)可包括可操作来安装到待检测物(114)上的至少三个触点(102，104，106)。另外，系统(100，200)可包括可操作来安装到所述待检测物(114)上的至少一种导电材料(112)。而且，系统(100，200)可包括邻近至少三个触点(102，104，106)中的至少一些触点和至少一种导电材料(112)的可压缩材料(110)，其中，可压缩材料(110)可压缩以允许触点(102，104，106)同时接触待检测物(114)，并且输出装置(208)可输出与待检测物(114)相关的电容测量值。 | ||
| 申请公布号 | CN101303381A | 申请公布日期 | 2008.11.12 |
| 申请号 | CN200810099434.6 | 申请日期 | 2008.05.08 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | B·D·费尔德曼;R·M·卢斯泰;B·M·拉普 |
| 分类号 | G01R27/26(2006.01);G01R31/34(2006.01) | 主分类号 | G01R27/26(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 曾祥夌;杨松龄 |
| 主权项 | 1.一种用于测量电容的系统(100，200)，所述系统(100，200)包括可操作来测量物体(114)中电容的输出装置(208)、可操作来安装到待检测物(114)上的至少三个触点(102，104，106)和可操作来安装到所述待检测物(114)上的至少一种导电材料(112)，所述系统(100，200)进一步的特征在于：邻近于所述至少三个触点(102，104，106)中至少一些触点和所述至少一种导电材料(112)的可压缩材料(110)，其中，所述可压缩材料(110)可压缩以允许所述触点(102，104，106)同时地接触所述待检测物(114)，并且所述输出装置(208)可输出与所述物体(114)相关的电容测量值。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||