发明名称 |
粒度分布测定装置 |
摘要 |
本发明是有关于一种粒度分布测定装置,该装置不需要含有被测定试料的媒液的循环机构和搅拌机构,而使构成简单化。向垂直方向长的试料元件的下部照射激光光,并由其散射光的空间强度分布测定粒度分布。一旦使测定元件内的粒子均匀地分散后,将试料元件进行静置,且开始散射光的测定。如设测定时间为t秒,并设粒子径最大的粒子D3在t秒间所沉降的距离为X3,则较其小的粒子D2和D1只沉降较X3小的距离X2和X1。因此,在距离X3下侧的激光照射部上的粒度分布不存在偏移,可不受粒子沉降的影响而测定粒子群全体的正确的粒度分布。 |
申请公布号 |
CN100432652C |
申请公布日期 |
2008.11.12 |
申请号 |
CN200510085341.4 |
申请日期 |
2005.07.22 |
申请人 |
株式会社岛津制作所 |
发明人 |
深井秋博;十时慎一郎 |
分类号 |
G01N15/02(2006.01);G01N21/47(2006.01) |
主分类号 |
G01N15/02(2006.01) |
代理机构 |
北京中原华和知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
寿宁;张华辉 |
主权项 |
1.一种粒度分布测定装置,对在测定元件内的液体中所分散的粒子照射激光光,并测定因该粒子而形成散射的散射光的空间强度分布,且计算该粒子的粒度分布,其特征在于:前述测定元件的垂直方向的长度,较由粒子的最大沉降速度和测定需要的时间所导出的粒子的最大沉降距离长,前述激光光对前述测定元件的照射部位,为较从前述测定元件内的液面向下方计量的前述最大沉降距离还要向下的部分。 |
地址 |
日本京都府 |