发明名称 | 改善最优功率校准的偏差的装置和方法 | ||
摘要 | 改进最优记录光功率的偏差问题的方法,所述方法能够通过在先设定可执行OPC操作的区域并以擦除功率擦除该区来减少OPC(光功率校准)功率的偏差并缩短导入时间。 | ||
申请公布号 | CN100433147C | 申请公布日期 | 2008.11.12 |
申请号 | CN200610067834.X | 申请日期 | 2006.03.14 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 刘真雨;李泰勋 |
分类号 | G11B7/09(2006.01);G11B7/125(2006.01) | 主分类号 | G11B7/09(2006.01) |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 王新华 |
主权项 | 1.一种设定记录介质的最优记录光功率的方法,包括:设定测试数据记录区,在该区中测量记录介质的最优记录光功率;在用擦除功率擦除设定的测试数据记录区之后记录测试数据;以及检测被记录的测试数据,然后基于最优记录光功率的测量设定最优记录光功率,其中,测试数据记录区利用目标地址和长度来设定,其中测试数据被记录至该目标地址和长度。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |