发明名称 改善最优功率校准的偏差的装置和方法
摘要 改进最优记录光功率的偏差问题的方法,所述方法能够通过在先设定可执行OPC操作的区域并以擦除功率擦除该区来减少OPC(光功率校准)功率的偏差并缩短导入时间。
申请公布号 CN100433147C 申请公布日期 2008.11.12
申请号 CN200610067834.X 申请日期 2006.03.14
申请人 三星电子株式会社 发明人 刘真雨;李泰勋
分类号 G11B7/09(2006.01);G11B7/125(2006.01) 主分类号 G11B7/09(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 王新华
主权项 1.一种设定记录介质的最优记录光功率的方法,包括:设定测试数据记录区,在该区中测量记录介质的最优记录光功率;在用擦除功率擦除设定的测试数据记录区之后记录测试数据;以及检测被记录的测试数据,然后基于最优记录光功率的测量设定最优记录光功率,其中,测试数据记录区利用目标地址和长度来设定,其中测试数据被记录至该目标地址和长度。
地址 韩国京畿道