| 发明名称 | 对通讯设备进行生产测试的方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种对通讯设备进行生产测试的方法，该方法主要包括：在通讯设备的单板软件中设置自动老化测试标记和自动老化测试次数参数，所述的自动老化测试次数根据通讯设备的老化时间和进行一次自动装备测试的时间来确定；在通讯设备的老化过程中，根据所述设置的自动老化测试标记、自动老化测试次数，对通讯设备进行生产测试。利用本发明所述方法，从而可以充分地利用通讯设备单板老化的时间，完成对通讯设备内部功能模块、芯片等的自动装备测试，提高生产测试效率。 | ||
| 申请公布号 | CN100432684C | 申请公布日期 | 2008.11.12 |
| 申请号 | CN200510088638.6 | 申请日期 | 2005.07.29 |
| 申请人 | 华为技术有限公司 | 发明人 | 张浩;滑思真 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01);H04B17/00(2006.01);H04L12/26(2006.01) | 主分类号 | G01R31/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京凯特来知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郑立明 |
| 主权项 | 1、一种对通讯设备进行生产测试的方法，其特征在于，包括：A、在通讯设备的单板软件中设置自动老化测试标记和自动老化测试次数参数，所述的自动老化测试次数根据通讯设备的老化时间和进行一次自动装备测试的时间来确定；B、在通讯设备的老化过程中，根据所述设置的自动老化测试标记、自动老化测试次数，对通讯设备进行生产测试。 | ||
| 地址 | 518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 | ||