| 发明名称 | 用于在电子元件中自测试参考电压的方法和电路装置 | ||
| 摘要 | 提供一种用于在电子元件中自测试参考电压的方法，通过该方法规定了一种能够以片上测试的形式来实现参考电压自测试的电路装置，即，对于片上测试，不需要任何地外部参考电压源，并且规定：将参考电压(U<SUB>ref</SUB>)馈送到压控振荡器，该压控振荡器的输出形成维恩-鲁滨逊电桥的输入，在相位检测器中就维恩-鲁滨逊电桥的输出信号相对于维恩-鲁滨逊电桥的输入的相移而检查维恩-鲁滨逊电桥的输出信号，以便检查维恩-鲁滨逊电桥的平衡，维恩-鲁滨逊电桥被设置成：在为该参考电压选定的额定值(U<SUB>ref.test</SUB>)下在该振荡器中生成的频率下达到平衡，如果该电桥达到平衡，就产生通过信号，否则，就产生失败信号。 | ||
| 申请公布号 | CN100430737C | 申请公布日期 | 2008.11.05 |
| 申请号 | CN200480018060.0 | 申请日期 | 2004.06.17 |
| 申请人 | NXP股份有限公司 | 发明人 | M·卡德纳 |
| 分类号 | G01R19/00(2006.01);G01R19/165(2006.01);G01R17/14(2006.01) | 主分类号 | G01R19/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 王波波 |
| 主权项 | 1.一种用于在电子元件中自测试参考电压的方法，其特征在于：该参考电压(Uref)被馈送到压控振荡器，该压控振荡器的输出形成维恩-鲁滨逊电桥的输入，在相位检测器中就维恩-鲁滨逊电桥的输出信号相对于维恩-鲁滨逊电桥的输入的相移而检查维恩-鲁滨逊电桥的输出信号，以检查维恩-鲁滨逊电桥的平衡，该维恩-鲁滨逊电桥被设置成：在为该参考电压选定的额定值(Uref.test)下在该振荡器中所生成的频率下达到平衡，如果该电桥达到平衡，就产生通过信号，否则，就产生失败信号。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||