发明名称 |
用于分光光度分析的装置和方法 |
摘要 |
一种用于分光光度分析的装置,包括:样品接收表面,其被配置为接收待分析的样品;以及样品接触表面,其可相对于样品接收表面移动,以使得该样品接触表面可以被带到第一位置以及第二位置,此第一位置处表面足够远地分开,以允许将样品放置到该样品接收表面,在第二相对位置处样品接触表面与该样品接触并挤压样品。该装置还包括样品厚度控制器,其被配置以控制在样品接触表面第二位置中样品接收表面和样品接触表面之间的距离,以使表面之间的样品的厚度可以改变,以在通过该样品的不同光程长度获取至少两个样品测量。 |
申请公布号 |
CN101300077A |
申请公布日期 |
2008.11.05 |
申请号 |
CN200680041173.1 |
申请日期 |
2006.11.13 |
申请人 |
福斯分析公司 |
发明人 |
H·V·吉尔 |
分类号 |
B01L3/00(2006.01);G01N21/03(2006.01) |
主分类号 |
B01L3/00(2006.01) |
代理机构 |
北京北翔知识产权代理有限公司 |
代理人 |
谢静;杨勇 |
主权项 |
1.一种用于分光光度分析装置的样品容器,所述样品容器包括:具有第一光透射区域的样品接收表面,以及具有第二光透射区域的样品接触表面,其中这些表面被连接,用于在第一位置和第二位置之间相对移动,在第一位置处所连接的表面被隔离开以允许在第一光透射区域接收样品,在第二位置处所述第一和第二光透射区域保持密切接触并挤压所接收的样品,同时所述第一和第二光透射区域可以被移动以改变光透射区域之间的样品的厚度,用于获取通过样品的不同的光程长度,以及样品厚度控制器,其被配置以控制在第二位置中样品接收表面和样品接触表面之间的距离,以便表面之间的样品厚度可以被改变,以在通过样品的不同光程长度获取样品的至少两个测量。 |
地址 |
丹麦希勒勒 |