发明名称 |
制造半导体器件的方法 |
摘要 |
本发明的方法公开了一种制造诸如横向高电压场效应(HV-FET)晶体管之类的半导体器件的更加便宜的方法。该方法包括:第一导电类型(1)的衬底,-注入第一掺杂物,从而在衬底中形成第二导电类型的第一区域(2),(并对其进行扩散),-形成第一导电类型的第二区域(3),第一区域(2)和第二区域(3)形成pn结。第二区域(3)是通过在衬底的表面(4)注入第二掺杂物而形成的表面层。-随后,表面层由在表面层(3)上形成的第一导电类型的第一外延层(5)覆盖。在对布置在彼此顶部的一个或多个区域进行制造时,可避免使用昂贵的高能量注入机(MeV),从而使成本降低。 |
申请公布号 |
CN101300679A |
申请公布日期 |
2008.11.05 |
申请号 |
CN200680040545.9 |
申请日期 |
2006.10.27 |
申请人 |
NXP股份有限公司 |
发明人 |
阿德里安努斯·W·卢迪克休斯;伊内兹·M·魏兰;琼·维夏德·斯特里耶克 |
分类号 |
H01L29/06(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/06(2006.01) |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 |
代理人 |
陈源;张天舒 |
主权项 |
1.一种制造半导体器件的方法,其包括:-具有一个表面(4)的第一导电类型(1)的衬底,a)注入第一掺杂物,从而在所述衬底中形成第二导电类型的第一区域(2),b)在所述第一区域中注入第二掺杂物,从而形成所述第一导电类型的第二区域(3),所述第一区域(2)和所述第二区域(3)形成pn结,其特征在于,所述第二区域(3)是通过在所述衬底的所述表面(4)注入所述第二掺杂物而形成的表面层,并且随后所述表面层通过以下步骤被覆盖c)在所述表面层(3)上形成所述第一导电类型的第一外延层(5)。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |