| 发明名称 | 集成电路测试用组合探针 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种集成电路测试用组合探针，包括单头探针(1)和端子(2)；该单头探针(1)包括头部(13)和尾部管身(12)，该管身(12)内腔装有弹簧，头部(13)插入管身(12)内腔并可相对管身(12)运动；所述端子(2)上部为空心，内壁设置夹紧部，单头探针(1)的任意一端插入端子(2)中并被所述夹紧部夹住；单头探针(1)的未插入所述端子(2)的一端用于与待测试的集成电路或测试电路板电连接，相应地，所述端子(2)的尾端(21)则用于与测试电路板电连接或待测试的集成电路电连接。同现有技术相比较，本发明的技术效果在于：不仅可以测试脚距小的集成电路，且成本低，维修方便，维修成本低；使用时产生的阻抗、容抗或感抗都很低。 | ||
| 申请公布号 | CN100430734C | 申请公布日期 | 2008.11.05 |
| 申请号 | CN200610033402.7 | 申请日期 | 2006.01.25 |
| 申请人 | 段超毅 | 发明人 | 段超毅 |
| 分类号 | G01R1/067(2006.01);G01R1/02(2006.01);G01R31/26(2006.01);G01R31/28(2006.01);H01L21/66(2006.01) | 主分类号 | G01R1/067(2006.01) |
| 代理机构 | 深圳市睿智专利事务所 | 代理人 | 陈鸿荫 |
| 主权项 | 1.一种集成电路测试用组合探针，包括单头探针(1)；所述单头探针(1)包括头部(13)和尾部管身(12)，该管身(12)内腔装有弹簧，所述头部(13)插入管身(12)内腔并可相对所述管身(12)作轴向运动；其特征在于：还包括端子(2)，所述端子(2)上部为空心，内壁设置夹紧部，所述单头探针(1)的任意一端插入所述端子(2)中并被所述夹紧部夹住；所述单头探针(1)的未插入所述端子(2)的一端用于与待测试的集成电路或测试电路板直接电接触，相应地，所述端子(2)的尾端(21)则用于与测试电路板电连接或待测试的集成电路直接电接触。 | ||
| 地址 | 518101广东省深圳市宝安区世外桃园二区二栋805 | ||