一种用于三维空间定位性能检测、三维循轨及任意轴直度量测之雷射阵列量测系统

摘要

一种用于三维空间定位性能检测、三维循轨及任意轴直度量测之雷射阵列量测系统，利用二维位置感测器在多道雷射的空间架构中行走，经过不同位置的雷射光源时，透过分析打在二维位置感测器上的雷射光点，据此，透过多道雷射的空间，利用二维位置感测器所行走的各种路径时所测得到的讯号加以分析，应用于五轴工具机、五轴并联式工具机、三轴工具机、机械手臂及三次元量床等机具之三维空间定位检测、空间任意轨迹循轨及任意线性轴直度之量测。