发明名称 | 一种形成堆叠电容的方法 | ||
摘要 | 一种形成堆叠电容的方法,包含:提供一基材,其上依序有底层、经掺杂矽玻璃层、未掺杂矽玻璃层与顶层;以顶层作为硬遮罩层与基材作为第一蚀刻停止层进行乾蚀刻制程,于底层、经掺杂矽玻璃层以及未掺杂矽玻璃层中形成渐缩的沟渠;移除顶层后进行选择性湿蚀刻制程,以移除部分之经掺杂矽玻璃层;顺应性的沉积多晶矽层后,将第二沟渠填满牺牲层;移除未被牺牲层覆盖之多晶矽层并去除牺牲层;以底层作为第二蚀刻停止层进行湿蚀刻制程,以移除未掺杂矽玻璃层与经掺杂矽玻璃层;进行静态乾燥法;沉积一介电层以及一导电材料以形成堆叠电容。 | ||
申请公布号 | TW200843123 | 申请公布日期 | 2008.11.01 |
申请号 | TW096114204 | 申请日期 | 2007.04.23 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 廖显皜;吴宗训;郭志强;程谦礼 |
分类号 | H01L29/92(2006.01);H01L21/3063(2006.01) | 主分类号 | H01L29/92(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 许锺迪 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 |