发明名称 一种形成堆叠电容的方法
摘要 一种形成堆叠电容的方法,包含:提供一基材,其上依序有底层、经掺杂矽玻璃层、未掺杂矽玻璃层与顶层;以顶层作为硬遮罩层与基材作为第一蚀刻停止层进行乾蚀刻制程,于底层、经掺杂矽玻璃层以及未掺杂矽玻璃层中形成渐缩的沟渠;移除顶层后进行选择性湿蚀刻制程,以移除部分之经掺杂矽玻璃层;顺应性的沉积多晶矽层后,将第二沟渠填满牺牲层;移除未被牺牲层覆盖之多晶矽层并去除牺牲层;以底层作为第二蚀刻停止层进行湿蚀刻制程,以移除未掺杂矽玻璃层与经掺杂矽玻璃层;进行静态乾燥法;沉积一介电层以及一导电材料以形成堆叠电容。
申请公布号 TW200843123 申请公布日期 2008.11.01
申请号 TW096114204 申请日期 2007.04.23
申请人 南亚科技股份有限公司 发明人 廖显皜;吴宗训;郭志强;程谦礼
分类号 H01L29/92(2006.01);H01L21/3063(2006.01) 主分类号 H01L29/92(2006.01)
代理机构 代理人 许锺迪
主权项
地址 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号