发明名称 | 使用定向侦测方法的影像缺陷校正系统 | ||
摘要 | 一种使用定向侦测方法的影像缺陷校正系统包括:影像资料记忆体,用以储存从影像撷取装置所输出的二维影像资料;判断装置,用以判断目标像素单元是否为缺陷像素单元,包括步骤:使用目标像素单元以及安排在上至下、左至右、下至右以及上至右四方向之八相邻像素单元的复数影像资料以判断目标像素单元的影像资料是否为显着点;计数具有显着点的方向数;以及根据已计数之方向数,判断目标像素单元是否为缺陷像素单元;置换装置于确定目标像素单元为缺陷像素单元时,将目标像素单元的影像资料置换成既定影像资料。 | ||
申请公布号 | TW200843489 | 申请公布日期 | 2008.11.01 |
申请号 | TW096115088 | 申请日期 | 2007.04.27 |
申请人 | 华邦电子股份有限公司 | 发明人 | 峰间育美;田中伸欣;酒井将 |
分类号 | H04N5/225(2006.01);G06T5/00(2006.01) | 主分类号 | H04N5/225(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 洪澄文;颜锦顺 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区研新三路4号 |