发明名称 改善临界尺寸均匀度的显影方法
摘要 本发明系揭露一种改善临界尺寸均匀度的显影方法,其利用于现有的机台设备,在现有的显影过程步骤中的单向混拌过程变更为交替方向混拌过程,藉此在无增加机台等额外的设备成本的前提下,增加显影液与已曝光光阻层的接触程度,以大幅度提高曝光的精确度,改善显影时临界尺度的均匀性,使符合现今微小化的制程尺度。
申请公布号 TW200842522 申请公布日期 2008.11.01
申请号 TW096115160 申请日期 2007.04.27
申请人 上海宏力半导体制造有限公司 发明人 郑铭仁
分类号 G03F7/26(2006.01) 主分类号 G03F7/26(2006.01)
代理机构 代理人 林火泉
主权项
地址 中国