发明名称 | 改善临界尺寸均匀度的显影方法 | ||
摘要 | 本发明系揭露一种改善临界尺寸均匀度的显影方法,其利用于现有的机台设备,在现有的显影过程步骤中的单向混拌过程变更为交替方向混拌过程,藉此在无增加机台等额外的设备成本的前提下,增加显影液与已曝光光阻层的接触程度,以大幅度提高曝光的精确度,改善显影时临界尺度的均匀性,使符合现今微小化的制程尺度。 | ||
申请公布号 | TW200842522 | 申请公布日期 | 2008.11.01 |
申请号 | TW096115160 | 申请日期 | 2007.04.27 |
申请人 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 发明人 | 郑铭仁 |
分类号 | G03F7/26(2006.01) | 主分类号 | G03F7/26(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 林火泉 | |
主权项 | |||
地址 | 中国 |