发明名称 | 改善传输性能的金属导线结构及其制造方法 | ||
摘要 | 本发明系利用金属有机化学气相沉积法(MOCVD),将氮化钛(TiN)形成的薄膜沉积在该半导体铝铜合金导线的侧壁上,经过非等向反应性离子蚀刻(anisotropy RIE)后可以增加金属导线的传输性能,和增加金属通道边缘的覆盖性,此举不但可降低铝化铜金属导线的电阻值,还可有效地增加电子流。 | ||
申请公布号 | TW200843032 | 申请公布日期 | 2008.11.01 |
申请号 | TW096115158 | 申请日期 | 2007.04.27 |
申请人 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 发明人 | 易万兵 |
分类号 | H01L21/768(2006.01);H01L21/336(2006.01) | 主分类号 | H01L21/768(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 林火泉 | |
主权项 | |||
地址 | 中国 |