发明名称 改善传输性能的金属导线结构及其制造方法
摘要 本发明系利用金属有机化学气相沉积法(MOCVD),将氮化钛(TiN)形成的薄膜沉积在该半导体铝铜合金导线的侧壁上,经过非等向反应性离子蚀刻(anisotropy RIE)后可以增加金属导线的传输性能,和增加金属通道边缘的覆盖性,此举不但可降低铝化铜金属导线的电阻值,还可有效地增加电子流。
申请公布号 TW200843032 申请公布日期 2008.11.01
申请号 TW096115158 申请日期 2007.04.27
申请人 上海宏力半导体制造有限公司 发明人 易万兵
分类号 H01L21/768(2006.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L21/768(2006.01)
代理机构 代理人 林火泉
主权项
地址 中国