发明名称 制作半导体装置的方法
摘要 本发明提供一种制作半导体装置的方法。首先,提供一半导体基底以及一设于半导体基底上的介电层。之后蚀刻介电层,以于介电层中形成一孔洞结构。接着,进行一除气制程,于除气制程中对半导体基底进行一紫外光处理,使介电层中所含之至少一气体逸出,再于孔洞结构之侧壁与底部形成一阻障层。随后于孔洞结构中填充一导电材料。由于紫外光处理具有良好的除气效果,可以使所形成的半导体装置具有良好结构。
申请公布号 TW200842978 申请公布日期 2008.11.01
申请号 TW096113524 申请日期 2007.04.17
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 林沧荣;庄丰隆
分类号 H01L21/3205(2006.01);H01L21/203(2006.01);H01L21/768(2006.01) 主分类号 H01L21/3205(2006.01)
代理机构 代理人 许锺迪
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号