发明名称 | 双位元存取快闪记忆体胞结构及其制造方法 | ||
摘要 | 一种双位元存取快闪记忆体胞结构,包含有一半导体基底;一闸极氧化层;一T型闸极,设于该闸极氧化层上;一第一电荷储存层,设于该T型闸极的一侧,且位于该T型闸极下方;一第二电荷储存层,设于该T型闸极的另一侧,且位于该T型闸极下方,其中该第一电荷储存层与该第二电荷储存层被该T型闸极的底部以及该闸极氧化层所隔开;一绝缘层,设于该T型闸极与该闸极氧化层之间;一第一汲极/源极掺杂区,设于该T型闸极一侧的该半导体基底内;以及一第二汲极/源极掺杂区,设于该T型闸极另一侧的该半导体基底内。 | ||
申请公布号 | TW200843121 | 申请公布日期 | 2008.11.01 |
申请号 | TW096114415 | 申请日期 | 2007.04.24 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 张明成;廖伟明;王哲麒;黄建章 |
分类号 | H01L29/792(2006.01);H01L27/115(2006.01);H01L21/8247(2006.01) | 主分类号 | H01L29/792(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 许锺迪 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 |