发明名称 | 上转换时间分辨光谱的测量方法和测量装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种测量上转换时间分辨光谱的测量方法和测量装置。大功率连续光半导体激光器经高速脉冲泵浦源驱动,发出脉冲激光,激发样品上转换发光,光信号经单色仪分光后被光电倍增管接收转换为电信号,在单色仪扫描波长的同时通过锁定放大器对信号进行锁定放大,记录得到上转换时间分辨静态光谱;单色仪固定波长,用数字示波器同时监测泵浦源和发光脉冲信号,得到上转换时间分辨动态光谱。本发明的特点在于可以通过调节脉冲泵浦源的脉宽、频率和幅度,测量不同状态下的时间分辨静态光谱及动态光谱,了解材料上转换发光的动态机理特性,分析材料内部的能级结构信息。 | ||
申请公布号 | CN101294901A | 申请公布日期 | 2008.10.29 |
申请号 | CN200810061986.8 | 申请日期 | 2008.06.10 |
申请人 | 浙江大学 | 发明人 | 董宁;曲广媛;郭海;余飞鸿 |
分类号 | G01N21/63(2006.01) | 主分类号 | G01N21/63(2006.01) |
代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人 | 周烽 |
主权项 | 1.一种上转换时间分辨光谱的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)通过高速可调脉冲驱动电源泵浦半导体激光器产生脉冲激光。(2)脉冲激光激发样品产生上转换发光,经单色仪分光后被光电倍增管转换为电信号。(3)单色仪进行波长扫描,同时锁定放大器对电信号进行锁定放大,经记录得到上转换时间分辨静态光谱。(4)单色仪固定波长,通过数字示波器同时监测脉冲激光信号和光电倍增管信号,得到上转换时间分辨动态光谱。 | ||
地址 | 310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号 |