发明名称 |
一种组织芯片制作方法 |
摘要 |
本发明公开了一种组织芯片制作方法。此法包括受体蜡块的制作及打孔、待取位点标记及供体蜡块的制作、供体蜡块的取样、阵列位点信息记录、阵列蜡块的处理和切片的步骤,其中用以下步骤制作待取位点标记及供体蜡块:(a)在取材时用针在蜡块的左上象限1/3处打孔做标记,作为XY轴的原点a,(b)以a为原点,分别在显微镜下测出需要取材的位点在水平轴(X轴)和垂直轴(Y轴)上的坐标距离,(c)返回到蜡块上相应的坐标位点做标记,(d)用采样针在供体蜡块欲取出部位上打孔采样,(e)在阵列蜡块(受体蜡块)上准确植入样品。该发明能成功实现点对点的精确位点取材,从而避免了以前报道的由于肿瘤异质性所造成的无效芯片偏差。该发明还能精确记录每一个芯片位点的信息,便于以后试验。能够有效的建立系列正常和肿瘤组织芯片库。 |
申请公布号 |
CN101294951A |
申请公布日期 |
2008.10.29 |
申请号 |
CN200710040165.1 |
申请日期 |
2007.04.28 |
申请人 |
漆楚波 |
发明人 |
漆楚波 |
分类号 |
G01N33/48(2006.01);C12Q1/00(2006.01) |
主分类号 |
G01N33/48(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种组织芯片制作方法,包括受体蜡块的制作及打孔、待取位点标记及供体蜡块的制作、供体蜡块的取样、阵列位点信息记录、阵列蜡块的处理和切片的步骤,其特征在于用以下步骤制作待取位点标记及供体蜡块:(a)在取材时用针在蜡块的左上象限1/3处打孔做标记,作为XY轴的原点a,(b)以a为原点,分别在显微镜下测出需要取材的位点在水平轴(X轴)和垂直轴(Y轴)上的坐标距离,(c)返回到蜡块上相应的坐标位点做标记,(d)用采样针在供体蜡块欲取出部位上打孔采样,(e)在阵列蜡块(受体蜡块)上准确植入样品。 |
地址 |
430079湖北省武汉市洪山区卓刀泉南路116号 |