| 发明名称 | 用于无毁损地测量薄层厚度的装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于无毁损地测量薄层厚度的装置，它具有一个壳体(12)并具有一个试探器(14)，该试探器具有一个第一和一个第二线圈装置，它们与一个计算单元连接并将在测量期间测得的层厚信号输送到计算单元，该装置还具有一个显示装置(26)，它至少显示所述计算单元的测量数据，其中，还设有至少一个另外的显示装置(36)，它至少显示计算单元的测量数据并且在所述第一显示装置(26)的平面之外定位在壳体(12)上。 | ||
| 申请公布号 | CN100429473C | 申请公布日期 | 2008.10.29 |
| 申请号 | CN200310114899.1 | 申请日期 | 2003.11.07 |
| 申请人 | 赫尔穆特菲舍尔房地产有限及两合公司 | 发明人 | （发明人要求不公开姓名） |
| 分类号 | G01B7/06(2006.01);G01D5/12(2006.01);G06F3/14(2006.01) | 主分类号 | G01B7/06(2006.01) |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 张兆东 |
| 主权项 | 1.用于无毁损地测量薄层厚度的装置，具有一壳体(12)及一个试探器(14)，所述试探器与一个计算单元连接并且在测量层厚时将信号输送到计算单元；还具有一第一显示装置(26)，它至少显示计算单元的测量数据，其特征在于，设有至少一个另外的显示装置(36)，它至少显示计算单元的测量数据并且在所述第一显示装置(26)的平面之外定位在壳体(12)上。 | ||
| 地址 | 联邦德国辛德尔芬根 | ||