发明名称 光拾取装置和光盘装置
摘要 本发明构成为,为了对可使用多种波长的光的光介质进行记录和再现,可使用公共的光检测器检测由光介质反射的多个反射光。该光拾取装置具有:第1发光部,其输出具有第1波长的第1光;第2发光部,其输出具有第2波长的第2光;第3发光部,其输出具有第3波长的第3光;光轴调节元件,其可调节从发光部输出且由光记录介质反射的返回光的光轴;以及一个光检测器,其接收通过了光轴调节元件的返回光,第1发光部和第3发光部分别配置成使第1光的光轴和第3光的光轴大致一致,光轴调节元件调节第2光的返回光的光轴,一个光检测器接收第1光的返回光、第2光的返回光以及第3光的返回光。
申请公布号 CN101297362A 申请公布日期 2008.10.29
申请号 CN200680040365.0 申请日期 2006.09.19
申请人 三菱电机株式会社 发明人 松原大介;篠田昌久
分类号 G11B7/135(2006.01) 主分类号 G11B7/135(2006.01)
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 黄纶伟
主权项 1.一种光拾取装置,其是可对光记录介质进行信息的记录或再现的光拾取装置,其特征在于,该光拾取装置具有:第1发光部,其输出具有第1波长的第1光;第2发光部,其输出具有第2波长的第2光;第3发光部,其输出具有第3波长的第3光;光轴调节元件,其可调节从所述发光部输出且由所述光记录介质反射的返回光的光轴;以及一个光检测器,其接收通过了所述光轴调节元件的所述返回光,所述第1发光部和所述第3发光部分别配置成使所述第1光的光轴和所述第3光的光轴大致一致,所述光轴调节元件调节所述第2光的返回光的光轴,所述一个光检测器接收所述第1光的返回光、所述第2光的返回光以及所述第3光的返回光。
地址 日本东京