发明名称 表面形状测定装置
摘要 本发明系一种表面形状测定装置,其课题为题供例如针对在FPD用玻璃基板等,以非接触,非破坏,高精确地以高速测定表面形状,并可检测弯曲等之表面形状测定装置,而解决手段为具备:为了载置被测定构件1之载置台2,和为了以非接触测定被测定构件1之表面变位的复数之气体扫描器3,和为了使气体扫描器3移动至特定的测定位置之驱动控制部5,和对应于各复数之气体扫描器3,为了将在测定位置之测定资料各自进行演算处理之第1资料处理部7,和为了合成处理以各第1资料处理部7所演算处理之测定资料的第2资料处理部8。
申请公布号 TW200840990 申请公布日期 2008.10.16
申请号 TW096146305 申请日期 2007.12.05
申请人 东芝解决方案股份有限公司;日本电气硝子股份有限公司 发明人 鸟羽光纪;高桥德幸;植竹宪雄;高桥忠
分类号 G01B13/16(2006.01) 主分类号 G01B13/16(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本