发明名称 TFT阵列检查装置
摘要 本发明的目的在于,对于TFT阵列检查装置,使主腔体(MC)小型化。本发明的TFT阵列检查装置中,于主腔体1的上方具有电子枪单元3,并且于主腔体1内具备玻璃基板用平台2,于该玻璃基板用平台2中,在电子枪单元3的下方位置设置可在Z方向上驱动的Z平台2d。于主腔体1内,使玻璃基板10可在Z方向上移动,从而,不论电子枪单元3设置于主腔体1内的任何位置,均可在不会与电子枪单元3相互干扰的情况下使玻璃基板10与探测框6接触。
申请公布号 TW200841413 申请公布日期 2008.10.16
申请号 TW096112240 申请日期 2007.04.09
申请人 岛津制作所股份有限公司 发明人 冈本英树
分类号 H01L21/677(2006.01) 主分类号 H01L21/677(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 日本